Description
จุดเด่นหลัก (Key Features)
CM-3700A Plus ได้รับการพัฒนาให้เหนือกว่ารุ่น CM-3700A ก่อนหน้า ในทุกด้านที่สำคัญต่องานวัดสีระดับอุตสาหกรรม
Flagship Spectrophotometer
ประสิทธิภาพสูงสุดในคลาสระบบออปติคอลสร้างจากสเตนเลสสตีล ที่มีค่าสัมประสิทธิ์การขยายตัวเชิงความร้อนต่ำมาก ช่วยให้ผลการวัดมีความเสถียรและทนทานต่อการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ
High Inter-Instrument Agreement IIA ≤ ΔE*ab 0.08
ค่าความสอดคล้องระหว่างเครื่องที่เหนือกว่า ช่วยให้ผลการวัดจากหลายเครื่องหรือหลายโรงงานมีความใกล้เคียงกัน ลด Human Error ในห่วงโซ่อุปทาน (Supply Chain)
4 Aperture Sizes : SAV / MAV / LMAV / LAV
เลือกช่องวัดได้ 4 ขนาด ตั้งแต่ชิ้นงานขนาดเล็กจนถึงพื้นผิวกว้าง รองรับตัวอย่างที่หลากหลาย ทั้งผิวเรียบ ผิวขรุขระ และวัสดุมี Texture
WAA Technology : Wavelength Analysis & Adjustment
เทคโนโลยีเฉพาะของ Konica Minolta ที่ตรวจสอบและปรับค่าความยาวคลื่นอัตโนมัติทุกวัน ช่วยรักษาความเสถียรของเครื่องระหว่างการสอบเทียบประจำปี
UV Cut Filter : สำหรับวัสดุที่มี OBA
ปรับฟิลเตอร์ UV แบบ Computer Controlled ได้ต่อเนื่อง 0–100% (1,000 step) เหมาะสำหรับวัดกระดาษ, สิ่งทอ และวัสดุที่มีสาร Optical Brightening Agents
SCI + SCE พร้อมกัน : ลดเวลาวัด 50%
วัด SCI (Specular Component Included) และ SCE (Specular Component Excluded) พร้อมกันในครั้งเดียวใน ~5 วินาที เร็วกว่ารุ่นก่อนถึง 50%
Camera Viewfinder :
จัดตำแหน่งตัวอย่างผ่านหน้าจอมองเห็นตำแหน่งตัวอย่างโดยตรงผ่านหน้าจอคอมพิวเตอร์ บันทึกภาพคู่กับข้อมูลการวัดได้ (ต้องใช้ซอฟต์แวร์ SpectraMagic NX2)
Temperature & Humidity Sensor :
ติดตามสภาพแวดล้อมการวัดมีเซ็นเซอร์วัดอุณหภูมิ-ความชื้น และเทอร์โมมิเตอร์วัดอุณหภูมิตัวอย่าง ช่วยให้การวัดสีโทนสดที่ไวต่ออุณหภูมิมีความแม่นยำยิ่งขึ้น
ความแม่นยำสีดำและสีเข้มที่เหนือกว่า
ปรับปรุงค่า Repeatability ของสีดำและสีโทนเข้มอย่างมีนัยสำคัญ รองรับการวัดชิ้นงานที่มีค่า Reflectance ต่ำได้แม่นยำยิ่งขึ้น
4 Aperture Sizes — รองรับทุกประเภทตัวอย่าง
CM-3700A Plus มีขนาดช่องวัดให้เลือก 4 ขนาด เปลี่ยนได้ง่ายตามความเหมาะสมของชิ้นงาน
| Aperture | พื้นที่วัด (Measurement) | พื้นที่ส่องสว่าง (Illumination) | เหมาะกับ |
|---|---|---|---|
| SAV เล็กสุด | 3 × 5 mm | 5 × 7 mm | ชิ้นงานขนาดเล็ก, บริเวณที่ต้องการความละเอียดสูง |
| MAV | Ø 8 mm | Ø 11 mm | ชิ้นงานทั่วไป, พื้นผิวเรียบ |
| LMAV | Ø 16 mm | Ø 20 mm | ตัวอย่างที่มี Texture, วัสดุกึ่งโปร่งแสง |
| LAV ใหญ่สุด | Ø 25.4 mm | Ø 28 mm | ผ้า, กระดาษ, วัสดุที่มีพื้นผิวไม่สม่ำเสมอ |
อุตสาหกรรมที่ใช้งาน CM-3700A Plus
CM-3700A Plus ออกแบบมาเพื่อรองรับงานวัดสีที่หลากหลาย ครอบคลุมอุตสาหกรรมชั้นนำทั่วโลก
- สี & สารเคลือบ (Paint / Coating) ควบคุมสีในกระบวนการผสมและผลิตสี, พัฒนาสูตรสีใหม่ (Color Formulation), ตรวจสอบ Batch-to-Batch Consistency สำหรับสีอุตสาหกรรมและสีตกแต่ง
- พลาสติก (Plastics) วัดสีพลาสติกทุกประเภท ทั้งทึบแสงและโปร่งแสง ควบคุมคุณภาพสีชิ้นส่วนพลาสติก, บรรจุภัณฑ์, และผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์
- เคมีภัณฑ์ (Chemicals) วัดสีสารละลายเหลวและตัวอย่างโปร่งใสผ่านระบบ Transmittance, ใช้ในการพัฒนาสีย้อม (Dye), สารเคมีทางการแพทย์ และงาน R&D
- สิ่งทอ (Textiles) วัดสีผ้าและเส้นใยที่มีสาร OBA, ควบคุมมาตรฐานสีในกระบวนการย้อมผ้า, เปรียบเทียบสีระหว่าง Lot การผลิตต่าง ๆ
- กระดาษ & เยื่อกระดาษ (Paper & Pulp) วัดความขาว (Whiteness), ความสว่าง (Brightness) และสีของกระดาษ รองรับการวัดตัวอย่างที่มี OBA ได้แม่นยำ ด้วย UV Cut Filter ที่ปรับได้
- อุตสาหกรรมอื่น ๆ เครื่องสำอาง, วัสดุก่อสร้าง, ยานยนต์, อิเล็กทรอนิกส์ และอุตสาหกรรมใด ๆ ที่ต้องการการควบคุมมาตรฐานสีระดับสูง
Specification
| หัวข้อ | รายละเอียด |
|---|---|
| ระบบออปติคอล | |
| ระบบส่องสว่าง / มุมวัด (Reflectance) | di:8°, de:8° — SCI/SCE สลับได้ และวัดพร้อมกันได้ ตาม CIE No.15, ISO 7724/1, ASTM E 1164, DIN 5033 |
| ระบบส่องสว่าง / มุมวัด (Transmittance) | di:0°, de:0° — ตาม CIE No.15, ASTM E 1164 |
| Integrating Sphere | Ø 152 mm (6 นิ้ว) |
| Detector | 38-element Silicon Photodiode Array |
| อุปกรณ์แยกสเปกตรัม | Diffraction Grating |
| การวัด | |
| ช่วงความยาวคลื่น | 360 – 740 nm |
| ระยะห่างระหว่างค่า (Pitch) | 10 nm |
| Half Bandwidth | ประมาณ 14 nm |
| ช่วงการวัด | 0 – 200% (Resolution: 0.001%) |
| แหล่งกำเนิดแสง | Pulsed Xenon Arc Lamp |
| ความแม่นยำ | |
| Repeatability (สีขาว) | ΔE*ab ≤ 0.005 (สเปกตรัม SD ≤ 0.05%) |
| Repeatability (สีดำ) | ΔE*ab ≤ 0.02 (สเปกตรัม SD ≤ 0.02%) |
| Inter-Instrument Agreement (IIA) | ΔE*ab ≤ 0.08 (เทียบกับ Master body, LAV/SCI) |
| UV Adjustment | UV Cutoff 400 nm — Computer Controlled 0–100% (1,000 step) |
| เวลาการวัด | |
| SCI หรือ SCE | ประมาณ 2 วินาที |
| SCI + SCE (พร้อมกัน) | ประมาณ 5 วินาที |
| Transmittance | ประมาณ 2 วินาที |
| ฟังก์ชันเพิ่มเติม | |
| Camera Viewfinder | ใช้กล้องภายในเครื่อง (ต้องใช้ซอฟต์แวร์ SpectraMagic NX2) |
| Internal Performance Check | WAA (Wavelength Analysis & Adjustment) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ/ความชื้น | มีในตัว |
| Interface | USB 2.0 |
| กายภาพ | |
| ขนาด (H × W × D) | 307 × 271 × 600 mm |
| น้ำหนัก | ประมาณ 20.0 kg |
| อุณหภูมิใช้งาน | 13 – 33°C, ความชื้นสัมพัทธ์ ≤ 80% |
| แหล่งจ่ายไฟ | AC Adapter เฉพาะรุ่น |
| ประเทศที่ผลิต | ญี่ปุ่น 🇯🇵 |
| อุปกรณ์ที่มาพร้อมกัน (Standard) | |
| Standard Accessories | White Calibration Plate, Target Masks (SAV, MAV, LMAV, LAV), Zero Calibration Box, USB Cable 3 m, AC Adapter |
| อุปกรณ์เสริม (Optional) | |
| Optional Accessories | SpectraMagic NX2 Software, Transmittance Specimen Holder, Glass/Plastic Cells (2/10/20 mm), Transmittance Zero Calibration Plate, Color Plates, Green Tile, Dust Cover |
